デバイス検査治具の東洋電子技研｜ファインピッチコンタクトプローブとICテストソケット

東洋電子技研のベア基板検査治具のノウハウ、独自のコンタクト技術（特許取得）、オリジナルプローブピン搭載から生まれたユニットです。幅広い設計自由度、メンテナンス性に優れ、自動機の試験ユニットとして多くのお客様から評判をいただいております。
デバイス実装ピッチ0.3ｍｍにも対応可能。ケルビン四端子測定やコネクタ製品の耐圧試験等、幅広く対応しています。

対応デバイス：
スマートフォン、タブレットPC向けのオープン・ショート・耐圧テストの治具、プローブピンとして最適

このハンドラ用ドッキング治具は、高耐久のプローブを採用し、0.3mmピッチなどのファインピッチで、精度の高い安定したコンタクトが得られます。 また、プローブピンの交換などのメンテナンスが容易にできます。

検査用治具のみならず、プレス機構を利用し、測定器に接続した一連のシステム構築・設計も実施いたしております。

４端子測定（プローブ２本）で、リレーコイル抵抗や、リレー接点接触抵抗の測定が可能。